设备描述
设备描述
一、仪器主要配置：
1.标准化陶瓷X光管；
2.靶材：Cu靶 3.LynxEyeTM林克斯一维阵列探测器；
4. θ-θ立式高精度测角仪；
5. DIFFRAC.SUITE软件提供物相定性、半定量等分析以及结构精修等；
6. 配备2011版正版PDF数据库。
二、主要技术指标：
1.功率300W；
2.靶材：铜靶；
3.2θ测量范围：1°—160°；
4.最小步长：0.004°。
三、送样要求：
1.挥发性、腐蚀性强的样品不予测定；
2.送样时请注明样品名称，测试要求。
四、应用范围：
主要应用于样品的物相定性和定量分析、晶体结构分析、晶粒大小测定、结晶度测定等。在材料科学、物理学、化学、化工、冶金、矿物、药物、塑料、建材、陶瓷、考古、刑侦、商检等领域都有应用，常与X射线荧光分析仪（XRF）结合使用。
编辑：管理员
